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反沖電子發(fā)射法(Exo-Electron Emission)厚壁鋼管反沖電子發(fā)射這一術(shù)語(yǔ)首先為Kramer(75)用來(lái)敘述電子從不銹鋼管新磨面的暫時(shí)發(fā)射。在Kramer的研究進(jìn)行之后約20年的今天，我們知道，這種發(fā)射與表面層（如氧化層）的出現(xiàn)或成長(zhǎng)有關(guān)，源本光電發(fā)射，并以諸如不銹鋼管氧化界面附近的位錯(cuò)等方式與結(jié)構(gòu)缺陷的產(chǎn)生和退火(annealing)相關(guān)聯(lián)。當(dāng)然，這種缺陷（特別是能觀察到帶有反沖電子發(fā)射的缺陷）與塑性變形有關(guān)聯(lián)，這就促使一些工作者將反沖電子現(xiàn)象用于疲勞方面的研究。提出：如果在位錯(cuò)與反沖電子發(fā)射之間存在一定關(guān)系，則位錯(cuò)的增殖和攀移將會(huì)提供一破損前的反沖電子流，它可用作破裂的預(yù)兆。的新近論文提供了沿此途徑的一個(gè)適宜的工作摘要。較早評(píng)論是比較廣泛的，它涉及到有關(guān)磨損、淬火、輻照及塑性變形的影響。

所觀察到的效應(yīng)簡(jiǎn)略地介紹了電子發(fā)射數(shù)與未退火不銹鋼管潔凈面暴露于氧中時(shí)間的關(guān)系。發(fā)射的衰變時(shí)間隨試驗(yàn)條件的不同可從幾秒變至數(shù)百秒，厚壁鋼管在循環(huán)疲勞試驗(yàn)中，峰值發(fā)射率可能有100電子/厘米2秒的數(shù)量級(jí)．

在過(guò)去，由于低的發(fā)射率及需要高真空，使反沖電子測(cè)量的利用只限于試驗(yàn)室研究。極小電流（10拍安）測(cè)量技術(shù)的新近進(jìn)展，已有可能探測(cè)空氣中的反沖電子，并展示出反沖電子效應(yīng)終將會(huì)用于實(shí)際的疲勞探測(cè)�，F(xiàn)在，似乎有必要相當(dāng)大地提高試樣溫度和用紫外線照射表面。這種探測(cè)器的設(shè)計(jì)是由Hoenig提出的。

陽(yáng)電子衰變(Positron Decay)-雖然陽(yáng)電子湮沒(méi)試驗(yàn)在1950年前后即已用于研究費(fèi)米(Fermi)面，但近至1964年，這種技術(shù)尚未用于不銹鋼管機(jī)械變形的研究。通常，這種試驗(yàn)是通過(guò)監(jiān)控靠近陽(yáng)電子源(如放射性同位素Na22)的研究試樣來(lái)完成的。進(jìn)入不銹鋼管的陽(yáng)電子與自由電子或某些核心電子交互作用而為其所湮沒(méi)，并導(dǎo)致Y射線的發(fā)射。對(duì)所發(fā)射Y射線的測(cè)量，可得出有關(guān)參與電子的線動(dòng)量分布或入射陽(yáng)電子平均生存時(shí)間的信息。

關(guān)于參與電子的動(dòng)量分布信息，可從厚壁鋼管湮沒(méi)Y射線的角相關(guān)測(cè)量來(lái)獲得。Dekhtyar等于1964年報(bào)導(dǎo)了在“因瓦鋼”中利用這種方法找出的塑性變形對(duì)陽(yáng)電子湮沒(méi)的影響。利用延遲重合法測(cè)量陽(yáng)電子生存期，新近已用于變形不銹鋼管。在這種方法中，從Na22源迅速發(fā)射出的Y射線（在每一個(gè)陽(yáng)電子發(fā)射后3微微秒）被用來(lái)觸發(fā)一個(gè)符合電路，這就提供了一個(gè)方法來(lái)測(cè)量從被試材料發(fā)射湮沒(méi)Y射線的時(shí)間延遲。來(lái)自這種湮沒(méi)過(guò)程的Y射線所具有的能量，與陽(yáng)電子源所發(fā)射的不同。

關(guān)于厚壁鋼管周期變形對(duì)陽(yáng)電子生存期影響的工作報(bào)告，是首先由Grosskreutz和Millej于1968年提出的。這在一些研究者間，看法似乎是比較一致的。Grosskreutz和Millet認(rèn)為，陽(yáng)電子在位錯(cuò)中心（位錯(cuò)附近的高畸變區(qū)）或空位處或兩者兼有的地方可被捕捉。如果存在這種情況，則陽(yáng)電子衰變率似乎有可能因循環(huán)變形而改變。報(bào)告結(jié)果的轉(zhuǎn)載。該圖表明，對(duì)于厚壁鋼管中純銅，在最大表面應(yīng)變約為±0.0028的情況下作往復(fù)彎曲循環(huán)變形時(shí)，陽(yáng)電子生存期增加1～3毫微秒。純鋁中也獲得類似的情況。另外，他們發(fā)現(xiàn)，變形材料（銅試樣）不管在室溫下時(shí)效若干天，還是在3750C下退火15分鐘，衰變曲線均可產(chǎn)生變化。Grosskreutz和Millet相信，退火試驗(yàn)證實(shí)了較大的陽(yáng)電子生存期起因于位錯(cuò)。

雖然利用陽(yáng)電子湮沒(méi)于疲勞損傷的評(píng)價(jià)在現(xiàn)時(shí)完全是探索性的，但是，重要的是應(yīng)該看到利用這種技術(shù)作為晶體缺陷（如位錯(cuò)及空位）的一種探測(cè)方法的可能性。用退火及經(jīng)疲勞的銅所作的陽(yáng)電子衰變曲線。http://ee96.cn/Info/View.Asp?id=412